引言
濺射靶材應用于濺射沉積工藝,可用于集成電路產(chǎn)業(yè)的高性能薄膜制備,對集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展具有重要推動作用。在應用中需要關注的是濺射靶材的材料、制備方法、性能參數(shù)等多個方面。隨集成電路產(chǎn)業(yè)芯片產(chǎn)能的不斷提升,集成電路用靶材市場規(guī)模也呈現(xiàn)增長趨勢,但整體上看,集成電路用靶材市場仍呈現(xiàn)一定的技術壟斷特征。
1、靶材在集成電路領域的應用
1.1 濺射沉積及靶材的定義與應用
(1)濺射沉積及濺射靶材。濺射沉積(sputtering deposition) 是一種物理氣相沉積 (physical vapor deposition,PVD)工藝,即在一定的真空環(huán)境下,利用荷能粒子轟擊材料表面,使材料表面濺射出粒子并沉積在基底表面形成薄膜[1-2]。濺射薄膜沉積工藝可重復性好、膜厚可控,所制備的薄膜具有純度高、致密性好等優(yōu)點,且可用于在大面積基板材料上獲得厚度均勻的薄膜,是制備薄膜的主要技術之一[3]。被轟擊的目標材料稱為濺射靶材,是目前市場上應用量最大的 PVD 鍍膜材料[3]。
(2)濺射靶材的應用和分類。如表 1 所示,濺射靶材可應用于半導體、平板顯示、光伏、記錄存儲等多個領域。就其分類:按照形狀不同,濺射靶材可分為圓形靶、矩形靶和管狀靶。按照材質不同,濺射靶材可以分為純金屬靶材(鋁、鈦、銅、鉭等)、合金靶材(鎳鉻合金、鎳鈷合金等)、陶瓷化合物靶材(氧化物、硅化物、碳化物、硫化物等)[4]。
(3)靶材的制備方法。靶材的制備方法主要有熔煉鑄錠法、粉末冶金法等[8]。其中,熔煉鑄錠法通過熔煉鑄造坯料,經(jīng)過熱鍛、退火等工序使氣孔或偏析擴散、消失,提高組織的致密性和強度,最終通過精加工獲得靶材[8-9]。用熔煉方法制備的靶材雜質含量較低,致密程度較好[10],但晶粒尺寸和織構取向均勻性較難控制,易產(chǎn)生帶狀織構[9],貴金屬易在熔煉過程中揮發(fā)[10] 或在機械加工中產(chǎn)生損耗。難熔貴金屬釕及其合金或熔點、密度相差較大的貴金屬復合靶材,由于采用普通熔煉法難以使成分均勻,一般采用粉末冶金法制備[10]。粉末冶金法將金屬或非金屬粉末混合均勻后,經(jīng)過壓制、燒結、退火、精加工等工序獲得靶材[9]。粉末冶金法能壓制成最終尺寸的壓坯,機械加工產(chǎn)生的損耗少,可降低成本[11],但工藝不當時易產(chǎn)生孔隙[10]。
(4)濺射靶材性能的影響。如表 2 所示,影響靶材性能的因素有純度、晶粒尺寸、晶面取向、磁透率、致密度、焊接性能、表面質量、形狀等多個方面,對濺射過程穩(wěn)定性、薄膜沉積速率、薄膜均勻性等濺射工藝效果產(chǎn)生影響。不同應用領域對于濺射靶材的性能具有不同要求,例如在形狀方面,集成電路領域一般選用圓形靶,而平板顯示面板鍍膜由于有面積大和均勻性要求,常使用長矩形靶[4];在純度方面,半導體領域應用對靶材性能要求最高,集成電路用貴金屬靶材的純度一般要求在 5N (99.999%) 甚至 6N(99.9999%)以上[10]等。
(5)靶材結構。靶材主要分為單體靶材和復合靶材。其中,復合靶材由濺射靶坯和背板復合而成[12],背板固定有助于提供較大的機械強度和導熱性[13]。復合靶材的靶坯與背板接合方式,主要有焊料接合(solder bonding)、擴散接合(diffusion bonding)等[14]。其中,焊料接合使用銦、錫合金等作為焊料;擴散接合不使用焊料,將靶材與背板在高溫下施加高壓,使兩種材料原子相互擴散形成鍵合。擴散接合的強度較高,但背板不能直接回收用于重復使用[14]。
1.2 靶材在集成電路產(chǎn)業(yè)的應用
金屬靶材在集成電路工藝的主要應用是晶圓制造及芯片封裝環(huán)節(jié)的金屬化工藝[12]。在芯片制造中,金屬化的主要應用有制備金屬互連線、接觸層、阻擋層、粘附層等[16-17],銅靶、鉭靶、鋁靶、鈦靶等部分金屬濺射靶材的部分應用如表 3 所示。在芯片封裝中,金屬靶材可用于底部凸塊金屬化 (UBM)、重布線層(RDL)、硅通孔 (TSV) 等,實現(xiàn)晶圓級芯片封裝(WLCSP)、系統(tǒng)級封裝(SIP)等高密度封裝集成[18]。
陶瓷化合物靶材在集成電路工藝中可用于制備柵極電介質膜等,例如鉿基氧化物在柵極高介電薄膜制備中的應用[20] 等。
在市場應用環(huán)節(jié),由于芯片制造商對靶材性能要求較高,集成電路用靶材產(chǎn)品存在一定的認證壁壘。芯片制造企業(yè)對靶材供應商的認證一般需要 2至 3 年以上,且不同制造企業(yè)的認證方式有所不同。
例如日本、韓國制造企業(yè)需要由其本國中間商進行間接供應,英特爾的靶材供應商需要通過應用材料公司的推薦,臺積電的靶材供應商需要通過其客戶的認可等[15]。所以,較為復雜的認證過程一定程度上影響了新進靶材制造企業(yè)產(chǎn)品進入市場,使靶材行業(yè)存在一定的市場壁壘。
2、全球集成電路用靶材行業(yè)情況
2.1 市場規(guī)模
據(jù)統(tǒng)計[21],晶圓制造材料中濺射靶材約占芯片制造材料市場 2.6%,封裝測試材料中濺射靶材約占封裝材料市場 2.7%。據(jù)報道[22],SEMI(國際半導體產(chǎn)業(yè)協(xié)會)預計 2022 年全球晶圓材料市場為 451 億美元、全球封裝材料市場為 248 億美元[22]。據(jù)此計算可得,2022 年全球半導體用濺射靶材市場規(guī)模預計約為 18.43 億美元,其中晶圓制造用濺射靶材市場約11.73 億美元,占比約 63.7%;封裝測試用濺射靶材市場約 6.70 億美元,占比約 36.3%。結合 2017-2021年全球市場規(guī)模情況[21],可得近年全球半導體晶圓制造及封裝測試用濺射靶材市場規(guī)模增長變化情況如圖 1 所示。
2.2 集成電路用靶材主要供應商
據(jù)統(tǒng)計[4],如圖 2 所示,全球濺射靶材市場呈現(xiàn)寡頭壟斷格局,JX 金屬、霍尼韋爾、東曹、普萊克斯等美國、日本企業(yè)擁有核心技術和完整產(chǎn)業(yè)鏈,在全球市場份額占比分別約為 30%、20%、20%、10%,合計占據(jù)約全球 80%的市場份額[4]。
2.2.1 日本 JX 金屬
JX 金屬株式會社 (JX Nippon Mining & Metals Corporation)成立于 1905 年,是全球最大的靶材供應商,其生產(chǎn)的半導體芯片用鉭靶、銅靶、存儲器用鎢靶等市場占有率為全球第一[15],曾在全球半導體銅靶材供應市場占比 80%以上,處于領先地位[23]。JX金屬主要從事有色金屬資源的開采與制造、電解及壓延銅箔制造、精密壓延制品制造、精密加工,以及靶材、表面處理劑、化合物半導體材料等領域。企業(yè)生產(chǎn)半導體、平板顯示、光伏電池、磁性設備、光學薄膜等產(chǎn)業(yè)用先進靶材,以及銅、銀、鋁、銦、鎘、碲等高純金屬。
2.2.2 美國霍尼韋爾
美國霍尼韋爾 (Honeywell) 公司成立于 1885年,提供行業(yè)定制的航空產(chǎn)品和服務、樓宇和工業(yè)控制技術、以及特性材料。生產(chǎn)的電子材料包括超高純化學品、高純金屬、電氣互聯(lián)材料、貴金屬熱電偶、靶材等。其中高純金屬有鈦、鈷、銅、鋁、鎳等?;裟犴f爾等徑角塑型(ECAE)專利技術是霍尼韋爾最初為鋁和鋁合金靶材研發(fā)的先進工藝,使用該工藝生產(chǎn)的銅錳合金等靶材的超細晶粒尺寸可達亞微米級,具有優(yōu)越的性能[24]?;裟犴f爾的高純鈦靶材市場占有率為全球第一,芯片用銅靶市場占有率為全球第二[15]。
2.2.3 日本東曹
日本東曹公司(Tosoh Corporation)成立于 1935年,主營工業(yè)化學品和特殊材料,涉及石化、建筑、消費電子、信息技術等領域,產(chǎn)品有石英制品及濺射靶材等。日本東曹有高純金屬、金屬合金、金屬陶瓷、陶瓷等不同材質及純度的靶材產(chǎn)品,可用于生產(chǎn)半導體、磁記錄、熱敏打印頭、平板顯示和薄膜電阻器等,可支持的晶圓尺寸為小于 6 英寸至 18 英寸,生產(chǎn)多種高純金屬粉末,以鈦和鈦合金為代表。其存儲器芯片用鎢靶市場占有率為全球第二[15]。
2.2.4 美國普萊克斯
美國普萊克斯(Praxair)公司成立于 1907 年,是全球最大的工業(yè)氣體生產(chǎn)商之一,從事工藝氣體、特種氣體和高性能表面涂料等領域,生產(chǎn)有金屬粉末、電子級陶瓷、熱噴涂粉末、電線等。公司生產(chǎn)高純度濺射靶材及激光燒蝕靶材,有 1 英寸至 14 英寸圓形,以及最大至 5 英寸寬、11 英寸長的不同尺寸靶材。靶材產(chǎn)品分有細晶粒、長使用壽命等類型,用于半導體、平板顯示、光伏等領域。其芯片用鈦靶市場占有率為全球第二[15]。
3、結語
濺射靶材是集成電路領域核心材料,直接影響集成電路產(chǎn)業(yè)的生產(chǎn)能力和技術革新。隨集成電路特征尺寸不斷縮小以及芯粒(Chiplet)等新興技術領域發(fā)展,濺射靶材不僅將持續(xù)向多材質、高純度和高利用率等方向發(fā)展,靶材制備工藝以及上游高純金屬、濺射設備的開發(fā)也都將成為關注重點。
參考文獻
[1] 劉瑞鵬, 李劉合. 磁控濺射鍍膜技術簡述[J]. 中國青年科技, 2006(08):56-59
[2] 楊文茂, 劉艷文, 徐祿祥等. 濺射沉積技術的發(fā)展及 其現(xiàn) 狀 [J]. 真 空科 學與 技術 學 報, 2005(03):204-210
[3] https://zhuanlan.zhihu.com/p/610622927
[4] https://zhuanlan.zhihu.com/p/535980664
[5] 王大勇, 顧小龍. 靶材制備研究現(xiàn)狀及研發(fā)趨勢[J]. 浙江冶金, 2007(4):9
[6] 魏修宇. 半導體用高純鎢靶材的制備技術與應用[J]. 硬質合金, 2017, 34(05):353-359
[7] http://www.szse.cn/disclosure/listed/bulletinDetail/index.html?af096838-1315-4d82-9d55-83c25e1c6b3f
[8] 徐飛, 布國亮, 楊萬朋等. 磁控濺射用高純鉻靶材的研究現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢[J]. 鑄造技術, 2020, 41(12):1197-1200
[9] 鄭金鳳, 扈百直, 楊國啟等. 高純鉭濺射靶材制備工藝進展[J]. 湖南有色金屬, 2016, 32(04):54-56+80
[10]許彥亭,郭俊梅,王傳軍等.貴金屬濺射靶材的研究進展[J].機械工程材料,2021,45(08):8-14+102.
[11] https://www.360powder.com/info_details/index/779.html
[12] 何金江, 萬小勇, 周辰等. 半導體用高利用率長壽命濺射靶材的研制[J]. 半導體技術, 2014, 39(01):71-77
[13] http://www.nexteck.com/tco/161-en.html
[14] https://www.umat.com.tw/index.php/products/coating/bonding
[15] 張衛(wèi)剛, 李媛媛, 孫旭東等. 半導體芯片行業(yè)用金屬濺射靶材市場分析[J]. 世界有色金屬, 2018, No.502(10):1-3
[16] 張淵主編. 半導體制造工藝[M]. 北京:機械工業(yè)出版社, 2015.8
[17] 戴超倫, 劉亞, 趙旸. 鉻粘附層對金 / 二氧化硅界面 熱 導 影 響 研 究 [J]. 應 用 激 光 , 2018, 38(06):968-974
[18] 何金江, 賀昕, 熊曉東等. 集成電路用高純金屬材料及高性能濺射靶材制備研究進展 [J]. 新材料產(chǎn)業(yè), 2015, No. 262(09):47-52
[19] 劉文迪. 集成電路用鎢濺射靶材制備技術的研究進展[J]. 中國鎢業(yè), 2020, 35(01):36-41
[20] 吳智華, 蔣丹宇, 張騁. 陶瓷濺射靶材的發(fā)展與應用[J]. 陶瓷科學與藝術, 2004(01):43-47
[21] https://baijiahao.baidu.com/s?id=1757713198966251167&wfr=spider&for=pc
[22] https://baijiahao.baidu.com/s?id=1743200163460260864&wfr=spider&for=pc
[23] https://xueqiu.com/7743655442/234436457
[24] 霍尼韋爾推出新型半導體銅錳濺射靶材 [J]. 電子設計工程, 2014, 22(07):4
作者簡介
侯潔娜,中國電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展研究院集成電路研究所咨詢顧問。
陳穎,中國電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展研究院集成電路研究所咨詢顧問。
趙聰鵬,中國電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展研究院集成電路研究所設備材料研究室副主任。
劉超,中國電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展研究院集成電路研究所產(chǎn)教融合研究室主任。
黃潤坤,中國電子信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展研究院集成電路研究所咨詢顧問。
相關鏈接